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什么是涂层测厚仪 | 2008-4-9 15:41:00
什么是涂层测厚仪?
涂层测厚仪是测量涂层厚度的仪器.

涂层测厚仪可以分为3种测量方式 

电磁式:可测量金属底材上的非磁性镀层(底材为铁或钢) 

高周波式:可测量金属底材上的非磁性镀层(底材为铝、铜和黄铜)

双制式:兼具以上两种功能 

常规涂层测厚仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。 
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。 
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 

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